See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Measurement of mechanical and tribological properties of semiconducting nanowires inside scanning electron microscope

Vlassov, Sergei; Polyakov, Boris; Dorogin, Leonid; Antsov, Mikk; Kink, Ilmar; Lõhmus, Rünno (2012). Measurement of mechanical and tribological properties of semiconducting nanowires inside scanning electron microscope. UK Semiconductors 2012, Sheffield, UK.
publitseeritud konverentsiettekanne
Vlassov, Sergei; Polyakov, Boris; Dorogin, Leonid; Antsov, Mikk; Kink, Ilmar; Lõhmus, Rünno
  • Inglise
UK Semiconductors 2012, Sheffield, UK
2012
Ilmunud
5.2. Konverentsiteesid, mis ei kuulu valdkonda 5.1

Viited terviktekstile