See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams

Raik, J. (2001). Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams. (Doktoritöö, Tallinna Tehnikaülikool). Tallinn: Tallinna Tehnikaülikooli Kirjastus.
dissertatsioon
Raik, J.
  • Inglise
Doktoritöö
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn
Tallinna Tehnikaülikooli Kirjastus
1406-4731
9985592492
Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering
8
2001
[15], 108
Ilmunud
2.3. Dissertatsioonide seerias ilmunud dissertatsioonid (v.a. käsikirjalised);

Viited terviktekstile

Lisainfo

Autori publikatsioonid lk. [9-15]. - Bibliograafia lk. 103-108
digitaalsed integraalahelad, kvaliteeditestid, otsustusteooria, algoritmid, dissertatsioonid