Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams

Raik, J. (2001). Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams. (Doktoritöö, Tallinna Tehnikaülikool). Tallinn: Tallinna Tehnikaülikooli Kirjastus.
dissertatsioon
Raik, J.
  • Inglise
Doktoritöö
Tallinna Tehnikaülikool
Tallinn
Tallinna Tehnikaülikooli Kirjastus
1406-4731
9985592492
Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering
8
2001
[15], 108
Ilmunud
2.3. Dissertatsioonide seerias ilmunud dissertatsioonid (v.a. käsikirjalised);

Viited terviktekstile

Lisainfo

Autori publikatsioonid lk. [9-15]. - Bibliograafia lk. 103-108
digitaalsed integraalahelad, kvaliteeditestid, otsustusteooria, algoritmid, dissertatsioonid