See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical Test Generation for Digital Systems

Brik, Marina; Jervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (1998). Hierarchical Test Generation for Digital Systems. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (131−136).. Kluwer Academic Publishers.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Brik, Marina; Jervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
Mixed Design of Integrated Circuits and Systems
Kluwer Academic Publishers
1998
131136
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo

INSPEC, Citeseer