No Fault Found: The root cause

Larsson, Erik; Eklow, Bill; Davidsson, Scott; Aitken, Rob; Jutman, Artur; Lotz, Christophe (2015). No Fault Found: The root cause. Proceedings of 33rd VLSI Test Symposium (VTS): VLSI Test Symposium (VTS), Napa, USA, April 27-29, 2015. Napa, CA, USA: IEEE, 1.dx.doi.org/10.1109/VTS.2015.7116284.
publitseeritud konverentsiettekanne
Larsson, Erik; Eklow, Bill; Davidsson, Scott; Aitken, Rob; Jutman, Artur; Lotz, Christophe
  • Inglise
Proceedings of 33rd VLSI Test Symposium (VTS)
VLSI Test Symposium (VTS), Napa, USA, April 27-29, 2015
Napa, CA, USA
IEEE
978-1-4799-7597-6
2015
1
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/dx.doi.org/10.1109/VTS.2015.7116284

Seotud asutused

  • Testonica Lab OÜ