CMOS Defects Analysis using DefSim Measurement Environment.

Pleskacz, Witold; Borejko, T; Walkanis, A; Stopjakova, Viera; Jutman, Artur; Ubar, Raimund. (2006). CMOS Defects Analysis using DefSim Measurement Environment. Informal Digest of Papers of the 11th IEEE European Test Symposium (241−146).. IEEE Computer Society Press.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Pleskacz, Witold; Borejko, T; Walkanis, A; Stopjakova, Viera; Jutman, Artur; Ubar, Raimund.
Informal Digest of Papers of the 11th IEEE European Test Symposium
IEEE Computer Society Press
2006
241146
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile