See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Low-Cost CAD System for Teaching Digital Test

Ubar, R.; Raik, J.; Paomets, P.; Ivask, E.; Jervan, G.; Markus, A. (1996). Low-Cost CAD System for Teaching Digital Test. Microelectronics Education (185−188).. Grenoble: World Scientific Publ Co Pte Ltd.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, R.; Raik, J.; Paomets, P.; Ivask, E.; Jervan, G.; Markus, A.
Microelectronics Education
Grenoble
World Scientific Publ Co Pte Ltd
1996
185188
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo

INSPEC