Impurity interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface properties

Kropman, D.; Mellikov, E.; Kärner, T.; Ugaste, Ü.; Laas, T.; Heinmaa, I.; Medvid, A. (2006). Impurity interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface properties. Materials Science and Engineering B, 134, 222−226.
ajakirjaartikkel
Kropman, D.; Mellikov, E.; Kärner, T.; Ugaste, Ü.; Laas, T.; Heinmaa, I.; Medvid, A.
  • Inglise
Lisandite interaktsioon punkt defektidega süsteemis Si-SiO2 ja nende mõju piirpinna omadustele
Materials Science and Engineering B
0921-5107
134
2006
222226
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile