See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

GA-based Test Generation for sequential circuits

Brik, M.; Raik, J.; Ubar, R.; Ivask, E. (2004). GA-based Test Generation for sequential circuits. Proc. of East-West Design&Test Workshop(EWDTW'04): Ukraine, September 23-26, 2004. 30−34.
publitseeritud konverentsiettekanne
Brik, M.; Raik, J.; Ubar, R.; Ivask, E.
Proc. of East-West Design&Test Workshop(EWDTW'04)
Ukraine, September 23-26, 2004
2004
3034
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo