See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Gate-Level Modelling of NBTI-Induced Delays Under Process Variations

Copetti, Thiago; Medeiros, Guilherme; Poehls, Leticia; Vargas, Fabian; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund. (2016). Gate-Level Modelling of NBTI-Induced Delays Under Process Variations. 17th IEEE Latin-American Test Symposium (LATS 2016), Foz do Iguaçu, Brazil, 6th - 8th April 2016. IEEE Computer Society Press, 75−80.
publitseeritud konverentsiettekanne
Copetti, Thiago; Medeiros, Guilherme; Poehls, Leticia; Vargas, Fabian; Kostin, Sergei; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Ubar, Raimund.
  • Inglise
17th IEEE Latin-American Test Symposium (LATS 2016), Foz do Iguaçu, Brazil, 6th - 8th April 2016
IEEE Computer Society Press
978-1-5090-1331-9
2016
7580
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile