See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Seade või seadmekomplekt
Aatomjõu-mikroskoop (AFM), Analüüsi- ja mõõtevahendid, BRUKER, NANOSCOPE, Multimode8, Bruker, Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut.
Aatomjõu-mikroskoop (AFM)
ATOMIC FORCE MICROSCOPE (AFM)
Analüüsi- ja mõõtevahendid
BRUKER, NANOSCOPE, Multimode8
Bruker
optoelektroonsete materjalide füüsika labor
Kasutamine
Enables 6X fast scan with Image resolution 512 lines/pixels. images were scanned up to 10μm x 10μm x 2.5μm using ‘E’ scanner with ‘J’ scanner 125μm x 125μm x5.0μm
"Direct mapping of nanomechanical properties. It has new operating modes that deliver new information, superior ease of use, even higher performance, and new levels of speed and productivity "
töökorras
tingimustega juurdepääs